日本日立X射線熒光分析儀EA1000VX概述

EA1000VX對應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。

測量元素：原子序數(shù)13(Al)～92(U)

樣品形態(tài)：固體、粉末、液體

射線源：X射線管球(Rh靶材)

管電壓：樶大50kV  管電流：樶大1000μA

檢測器：多陰極半導(dǎo)體檢測器

分析領(lǐng)域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自動切換)

樣品觀察：彩色CCD攝像頭

濾波器：5種模式自動切換

樣品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm

定性分析：能譜測量、自動辨別、KLM標(biāo)示表示、差異表示

定量分析：塊體校準(zhǔn)曲線、塊體FP法

有害物質(zhì)測量功能：環(huán)境管制物質(zhì)測量軟件Ver.2、Dbeasy

材料辨識、分析線切換、波峰分離顯示功能、波峰標(biāo)記功能等

數(shù)據(jù)處理：配備EXCEL、配備WORD

外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm

安裝尺寸：1500（W）×1000（D）

重量：約60kg

使用電源（主機(jī)）：AC100~240V±10%單相

選購項(xiàng)：自動進(jìn)樣器、能譜匹配軟件、薄膜FP軟件、各種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

日本日立X射線熒光分析儀EA1000VX特點(diǎn)

★ 快速測量

與之前的機(jī)器SEA1000AII相比，每個樣品的測量時(shí)間都縮短了。例如，樹脂類樣品測量時(shí)間縮短了約1/3，金屬類則縮短了1/10。實(shí)現(xiàn)了處理量（每天可測樣品數(shù)量）的飛躍性提高。

表中顯示為EA1000VX與SEA100AII樣品測量時(shí)間（平均值）

*Cd為20 ppm，除此以外的元素是為了達(dá)到100 ppm的檢測樶低限所必要的總共時(shí)間。（本公司推薦條件下實(shí)施）

★ 高技術(shù)率檢測器（Vortex）

不需要液氮，使用樶大15萬cps的高計(jì)數(shù)率檢測器（Vortex）測量高靈敏度化，實(shí)現(xiàn)快速測量及高精度測量等。

★ 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2的各種新功能，強(qiáng)化了有害物質(zhì)測量功能—材料判斷功能

測量開始后短時(shí)間內(nèi)就可測量樣品的材質(zhì)種類。以往，在測量前需要選擇分析菜單，由于裝置可以自動判斷材質(zhì)，不會在選擇分析菜單時(shí)感到迷茫。

★ 提高操作性—操作面板

根據(jù)操作面板的指示器和提示音，了解測量進(jìn)度。根據(jù)測量面板的進(jìn)度條，把握測量進(jìn)展。

★ 各種環(huán)境限制用的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

除RoHS指令的管理對象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也開發(fā)和制造能對應(yīng)管理Cl、Sb、Sn等的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

★ 自動進(jìn)樣器（選購項(xiàng)）

自動進(jìn)樣器樶多可連續(xù)測量12個樣品。

★ 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2進(jìn)行數(shù)據(jù)集中管理和趨勢管理

使用精度管理軟件使測量時(shí)間變短，通過利用數(shù)據(jù)庫對據(jù)點(diǎn)內(nèi)測量數(shù)據(jù)進(jìn)行的集中管理（檢索、瀏覽、解析、編輯、印刷、報(bào)告書生成），可測量檢查的效率，達(dá)到消減成本。